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簡(jiǎn)要描述:兩箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱JW-4002D1.設(shè)備條件:環(huán)境溫度為+25℃2.高溫槽溫度范圍:+60℃至 +180℃3.低溫槽溫度范圍:-10℃至 -60℃
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兩箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱JW-4002D
一、兩箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱
1.適用范圍:
本設(shè)備適用于各類(lèi)電工電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件和材料進(jìn)行高低溫恒定和漸變、濕熱試驗(yàn)等環(huán)境模擬可靠性試驗(yàn)。
除此之外的用途可能會(huì)導(dǎo)致人員受傷及機(jī)設(shè)備損壞
2.樣品限制
易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存
強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存
二、兩箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱容積和尺寸
1.有效容積:336L
2.提籃尺寸:W800mm×H700mm×D600mm ,提藍(lán)容積:336L
3.測(cè)試箱外箱尺寸:約W(寬)1800mm×H(高)2400mm×D(深)2700mm(以實(shí)物為準(zhǔn))
三、設(shè)備性能指標(biāo)
1.設(shè)備條件:環(huán)境溫度為+25℃
2.溫度范圍:高溫槽溫度范圍:+60℃至 +180℃ 低溫槽溫度范圍:-10℃至 -70℃
3.溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃
4.溫度沖擊范圍:-50℃至+150℃(高溫:+60℃至+150℃;低溫:-10至-60℃)
5.溫度偏差:≤±2℃
6.溫度均勻度:≤2℃
7.溫度恢復(fù)時(shí)間:≤3-5分鐘;(試樣重量在2KG以內(nèi))
8.轉(zhuǎn)換時(shí)間:≤5S(即吊籃移動(dòng)時(shí)間)
9.高溫升溫時(shí)間:常溫升至180℃≤30分鐘,全程平均非線性
10.低溫降溫時(shí)間:常溫降至-60℃≤30分鐘,全程平均非線性
11.升降溫過(guò)沖:≤±2℃
12.設(shè)備噪音:≤65dB(A聲級(jí), 恒定時(shí),設(shè)備正前方1米處)
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